Analyse quantitative des concentrations en éléments majeurs et mineurs (Mg à Ba) des sédiments (par fluorescence X)

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Spectromètre de table de fluorescence X à dispersion d’énergie

Description de l’instrument

Le spectromètre de table de fluorescence X à dispersion d’énergie (ED-XRF), modèle PANalytical Epsilon 3XLE acquis en 2018, permet de quantifier la composition chimique d’échantillons broyés de sédiments marins et continentaux. Il donne ainsi accès à la concentration de 19 éléments majeurs et mineurs (de Mg et Ba) du sédiment, de façon rapide, non-destructive, peu onéreuse, et avec une préparation limitée des échantillons. La mesure d’un échantillon prend 10 minutes environ.

Principe de l’analyse

La concentration en éléments est mesurée par fluorescence X directement à la surface des échantillons broyés de sédiments (protégés d’un fin film transparent). Les rayons X primaires émis par une source d’excitation d’intensité et tension variables provoquent une ionisation des atomes du sédiment, et une réorganisation des électrons au sein des couches électroniques des atomes. Celle-ci engendre l’émission de rayons X secondaires dont l’énergie est caractéristique de l’atome émetteur. Le détecteur à dispersion d’énergie mesure la distribution d’énergie du rayonnement X secondaire, de laquelle est déduit le nombre de coups de chaque élément. L’étalonnage établi à partir de 39 étalons certifiés de sédiments de composition variée permet de convertir, pour chaque élément, le nombre de coups en concentrations (en ppm).

Analyses réalisées sur l’instrument

Concentrations de 19 éléments majeurs et mineurs (Al, As, Ca, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Ni, Pb, Rb, Si, Sr, Ti, Zn, Zr) mesurées à la surface d’échantillons de sédiment séché et broyé.

Contacts

Aline Govin : Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.
Aurélie Van Toer : Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.